在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-85《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流方法》(等效采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO 2360-1982)中，對(duì)渦流法涂層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)、操作步驟和影響測(cè)量精度的因素及其注意事項(xiàng)作了詳細(xì)地闡述。訪問(wèn)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)欄目，也許能找到您需要的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。其中有關(guān)影響測(cè)量精度因素的條款，應(yīng)視作渦流涂鍍層測(cè)厚儀開(kāi)發(fā)應(yīng)用必須遵循的指導(dǎo)性文件，這些影響渦流涂層測(cè)厚儀精度的因素包括：

1、覆蓋層厚度大于25μm時(shí)，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比。這就是很多渦流法涂層測(cè)厚儀的測(cè)量范圍不會(huì)很大的原因。大家可以想象涂層厚度和渦流強(qiáng)弱的函數(shù)關(guān)系一定是在一個(gè)合理的范圍之內(nèi)，超出這個(gè)范圍，函數(shù)關(guān)系就差得遠(yuǎn)了，測(cè)量誤差也會(huì)大到普遍接受的范圍。
2、基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)。這是顯然的，同一個(gè)測(cè)厚儀側(cè)頭對(duì)不同金屬材料所產(chǎn)生的渦流強(qiáng)度是不同的，如果要想獲得更準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，可以對(duì)同一種材料的測(cè)量進(jìn)行校準(zhǔn)比對(duì)。
3、涂層測(cè)厚儀測(cè)量的基體金屬應(yīng)有一個(gè)最小厚度，只有大于這個(gè)厚度，測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響。這點(diǎn)在實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中往往會(huì)被忽略，無(wú)論是使用方還是銷(xiāo)售方都把主要目光放在了測(cè)量范圍和測(cè)量精度，有時(shí)我們對(duì)測(cè)量結(jié)果不滿意往往會(huì)將原因歸為測(cè)厚儀質(zhì)量或檔次不夠。
4、渦流測(cè)厚儀對(duì)試樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng)，即對(duì)靠近試樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的。測(cè)厚儀測(cè)頭在測(cè)量到邊緣部分的時(shí)候，測(cè)頭產(chǎn)生的能量會(huì)有一部分的損失，如此可以推斷在測(cè)量到被測(cè)物體邊緣時(shí)，測(cè)量的厚度值會(huì)比實(shí)際偏大。
5、試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響將隨著曲率半徑的減小明顯地增大。
6、基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量精度，粗糙程度增加，影響增大。這個(gè)影響會(huì)很大，因?yàn)榇植诙却笫沟脺y(cè)厚儀測(cè)頭與基體之間多出一些空氣部分，這部分會(huì)嚴(yán)重干擾渦流的效果，使得測(cè)量值偏大。
7、渦流測(cè)厚儀對(duì)妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此測(cè)量前應(yīng)清除測(cè)頭和覆蓋層表面的污物，測(cè)量時(shí)應(yīng)使涂層測(cè)厚儀測(cè)頭與測(cè)試表面保持恒壓垂直接觸。這個(gè)的原因其實(shí)和上一條有相似之處。

以上各項(xiàng)要點(diǎn)，既嚴(yán)格規(guī)范了顧客實(shí)施測(cè)厚全過(guò)程的工作質(zhì)量，又為生產(chǎn)廠商提供了儀器開(kāi)發(fā)必須遵循的設(shè)計(jì)依據(jù)，因而有力地促進(jìn)了渦流測(cè)厚技術(shù)的總體發(fā)展。涂層測(cè)厚儀是一個(gè)精密儀器，無(wú)論是生產(chǎn)還是使用都要做好相關(guān)的設(shè)計(jì)和使用程序，銷(xiāo)售環(huán)節(jié)也應(yīng)該對(duì)這個(gè)程序的正確執(zhí)行盡到自己的信息傳遞責(zé)任。

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